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龍圖騰網獲悉北京銳達儀表有限公司申請的專利放射監測的高精度測量設備及測量方法、檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114942202B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-05-06發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210538499.6，技術領域涉及：G01N9/24；該發明授權放射監測的高精度測量設備及測量方法、檢測方法是由呼秀山;李圓圓設計研發完成，并于2022-05-17向國家知識產權局提交的專利申請。

本放射監測的高精度測量設備及測量方法、檢測方法在說明書摘要公布了：本公開提供了一種放射監測的高精度測量設備及測量方法、檢測方法。本公開的測量設備包括：輻射裝置、探測裝置、監測裝置，輻射裝置安裝在被測容器的第一側面，探測裝置安裝在被測容器的第二側面，第一側面與所述第二側面相對，被測容器內裝有介質，監測裝置安裝在輻射裝置的第一側面并連接探測裝置。本公開的測量設備能夠無接觸地對容器或管道內介質的密度、濃度和或料位進行測量。

本發明授權放射監測的高精度測量設備及測量方法、檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種放射監測的高精度測量設備，其特征在于，包括：輻射裝置，安裝在被測容器的第一側面，被測容器內裝有介質；探測裝置，安裝在被測容器的第二側面，第一側面與第二側面相對；監測裝置，安裝在輻射裝置的第一側面并連接探測裝置；輻射裝置包括殼體和放射源，殼體包裹放射源，放射源用于同時產生共線但方向相反的第一射線與第二射線；殼體包括：第一發射通道，朝向被測容器使放射源產生的第一射線穿過被測容器、經介質作用后進入探測裝置；第二發射通道，朝向監測裝置使放射源產生的第二射線直接進入監測裝置；探測裝置用于檢測射線形成探測射線測量信號，且用于檢測第一射線形成第一射線測量信號；監測裝置用于檢測射線形成監測射線測量信號，且用于直接檢測第二射線形成第二射線測量信號；探測裝置接收監測裝置傳遞的監測射線測量信號，比較探測射線測量信號與監測射線測量信號的產生時間，若兩者產生時間具有同時性或時間間隔小于等于第一預設值，認為此次監測裝置檢測的監測射線測量信號為第二射線測量信號且此次探測裝置檢測的探測射線測量信號為第一射線測量信號，判定探測裝置此次檢測的探測射線測量信號具有有效性且為第一射線測量信號，探測裝置記錄保存此次檢測的第一射線測量信號后處理分析獲得第一射線測量信號的測量信息，若兩者產生時間不具有同時性或時間間隔大于第一預設值時則探測裝置刪除或忽略此次檢測的探測射線測量信號。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京銳達儀表有限公司，其通訊地址為：100744 北京市通州區中關村科技園區通州園金橋科技產業基地景盛南四街15號92B；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。