深圳市昂科技術有限公司劉超獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉深圳市昂科技術有限公司申請的專利一種批量化芯片測試設備獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119916186B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-06-20發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510403846.8,技術領域涉及:G01R31/28;該發明授權一種批量化芯片測試設備是由劉超;黃斌華設計研發完成,并于2025-04-01向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種批量化芯片測試設備在說明書摘要公布了:本發明涉及芯片測試的技術領域,尤其涉及一種批量化芯片測試設備,通過吸盤帶動芯片轉動將其調整至準確位置,通過清理板將殘留在芯片觸點上的雜質擦除,以確保芯片功能測試結果的準確性,并且,通過吸盤將芯片抵靠在清理板上后再對芯片進行角度調節,此時芯片會與清理板發生相對摩擦,即在對芯片進行角度調節過程中自動完成了芯片觸點清理操作,相較于逐一處理,縮短了工藝步驟,有利于提高生產效率;一種批量化芯片測試設備,包括有承接板、承接塊、電動推桿、連接塊一、管道一、吸盤、管道二、清理板、檢測組件、固定組件、壓緊組件和驅動組件;底板上連接有驅動組件;驅動組件上連接有固定組件。
本發明授權一種批量化芯片測試設備在權利要求書中公布了:1.一種批量化芯片測試設備,包括有底板(1);底板(1)上固接有外殼(2);外殼(2)上連接有視覺傳感器(3);其特征在于,底板(1)上連接有驅動組件;驅動組件上連接有固定組件;驅動組件用于帶動固定組件進行水平移動;固定組件上連接有承接板(4),固定組件用于對承接板(4)進行固定;承接板(4)上固接有若干個承接塊(5);驅動組件上連接有若干個電動推桿(6);每個電動推桿(6)的伸縮端均固接有一個連接塊一(7);每個連接塊一(7)上均轉動連接有一個管道一(8);驅動組件用于帶動管道一(8)進行轉動;每個管道一(8)上均連通有一個吸盤(9);每個管道一(8)上均連通有一個管道二(10);管道一(8)與管道二(10)轉動連接;外殼(2)上可拆卸連接有清理板(11);外殼(2)上連接有檢測組件,檢測組件用于檢測芯片的觸點位置;外殼(2)上連接有壓緊組件,壓緊組件用于將芯片壓緊限位;還包括有輔助組件;承接塊(5)上連接有輔助組件;輔助組件包括有圓環(2013);每個承接塊(5)上均滑動連接有一個圓環(2013);每個圓環(2013)上均固接有至少四個L形塊(2014),L形塊(2014)與對應的承接塊(5)接觸;每個吸盤(9)上均固接有一個連接塊二(2015);每個連接塊二(2015)上均固接有至少四個圓柱(2016);每個圓柱(2016)上均固接有一個磁鐵二(2017);每個圓環(2013)上均固接有一個磁鐵三(2018);每個L形塊(2014)上均固接有一個磁鐵四(2019);每個承接塊(5)上均固接有至少四個磁鐵五(2020),磁鐵五(2020)與對應的磁鐵四(2019)相接觸;使得每個芯片均在清理板(11)上滑動;使用時,通過吸盤(9)帶動芯片轉動將其調整至準確位置,通過清理板(11)將殘留在芯片觸點上的雜質擦除。
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