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龍圖騰網(wǎng)獲悉圣邦微電子(北京)股份有限公司申請的專利一種改善芯片測試設(shè)備測試精度的電路及方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN115327191B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-06發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202110511361.2，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R1/30；該發(fā)明授權(quán)一種改善芯片測試設(shè)備測試精度的電路及方法是由張新城;于美潔設(shè)計研發(fā)完成，并于2021-05-11向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種改善芯片測試設(shè)備測試精度的電路及方法在說明書摘要公布了：一種改善芯片測試設(shè)備測試精度的電路及方法，其特征在于：電路包括DUT信號生成單元、同步時鐘信號生成單元、第一開關(guān)單元、第二開關(guān)單元和減法器；其中，DUT信號生成單元，向同第一開關(guān)單元輸送DUT信號；同步時鐘信號生成單元，用于采集DUT信號以對時鐘信號進(jìn)行更新，以及基于第二控制信號的控制將更新后的時鐘信號發(fā)送至減法器；第一開關(guān)單元，用于控制DUT信號輸入至第二開關(guān)單元中，以及控制同步時鐘信號生成單元的開啟或關(guān)斷狀態(tài)；第二開關(guān)單元，用于控制同步時鐘信號輸入至減法器中；減法器，用于生成高精度待測信號。本發(fā)明中的電路能夠保護(hù)測試設(shè)備，改善待測信號，且結(jié)構(gòu)簡單、成本低、效果好，應(yīng)用廣泛。

本發(fā)明授權(quán)一種改善芯片測試設(shè)備測試精度的電路及方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種改善芯片測試設(shè)備測試精度的電路，其特征在于：所述電路包括DUT信號生成單元、同步時鐘信號生成單元、第一開關(guān)單元、第二開關(guān)單元和減法器；其中，所述DUT信號生成單元，與所述同步時鐘信號生成單元和第一開關(guān)單元連接，用于向所述同步時鐘信號生成單元和第一開關(guān)單元輸送DUT信號；所述同步時鐘信號生成單元，與所述DUT信號生成單元、第一開關(guān)單元、第二開關(guān)單元連接，用于基于第一開關(guān)單元的第一控制信號實現(xiàn)開啟或關(guān)斷，并采集DUT信號以對時鐘信號進(jìn)行更新，以及基于第二開關(guān)單元的第二控制信號的控制將更新后的時鐘信號發(fā)送至減法器；所述第一開關(guān)單元，與所述DUT信號生成單元、同步時鐘信號生成單元、第二開關(guān)單元和減法器分別連接，用于生成第一控制信號并控制所述DUT信號生成單元將其生成的DUT信號輸入至所述第二開關(guān)單元中，以及用于控制所述同步時鐘信號生成單元的開啟或關(guān)斷狀態(tài)；所述第二開關(guān)單元，與第一開關(guān)單元、同步時鐘信號生成單元、減法器連接，用于接收來自第一開關(guān)單元的第一控制信號，并基于所述第一控制信號生成第二控制信號，以控制同步時鐘信號輸入至所述減法器中；所述減法器，與所述第一控制單元、第二控制單元連接，用于采集來自第一控制單元的DUT信號和來自第二控制單元的同步時鐘信號并計算，以生成高精度待測信號。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人圣邦微電子(北京)股份有限公司，其通訊地址為：100089 北京市海淀區(qū)西三環(huán)北路87號13層3-1301；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。