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龍圖騰網獲悉中國電子科技集團公司第二十九研究所申請的專利一種基于異常監測的干涉儀內校正方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115079085B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210574474.1，技術領域涉及：G01S3/14；該發明授權一種基于異常監測的干涉儀內校正方法是由夏校朋;秦俊舉;呂樂群;邸曉曉設計研發完成，并于2022-05-25向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于異常監測的干涉儀內校正方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于異常監測的干涉儀內校正方法，包括以下步驟：S1、在設備出廠之前，對設備進行一段時間的預熱，預熱過后進行多次內校正操作，得到溫度監控芯片在不同溫度時對應的內校正表Mi；S2、在設備出廠之后，正常工作之前進行第一次內校正操作，獲得并應用該內校正表A，并記錄下此時溫度監控芯片的溫度Ti；S3、在一定條件下觸發新的內校正操作；S4、新的內校正操作為：對隨機抽取的幾個頻點進行內校正后，將內校正結果C與內校正表A以及溫度Ti時對應的內校正表Mi進行對應頻點校正數據的比較，根據比較結果修改并應用內校正表A；S5、重復步驟S3～S4，直至設備結束運行。本發明極大提高了系統對溫度變化的適應性。

本發明授權一種基于異常監測的干涉儀內校正方法在權利要求書中公布了：1.一種基于異常監測的干涉儀內校正方法，其特征在于，包括以下步驟：S1、在設備出廠之前，對設備進行一段時間的預熱，預熱過后進行多次內校正操作，得到溫度監控芯片不同溫度時對應的內校正表Mi；S2、在設備出廠之后，正常工作之前進行第一次內校正操作，獲得并應用內校正表A，并記錄下此時溫度監控芯片的溫度Ti；S3、在一定條件下觸發新的內校正操作；S4、新的內校正操作為：對隨機抽取的幾個頻點進行內校正后，將內校正結果C與內校正表A以及溫度監控芯片溫度為Ti時對應的內校正表Mi進行對應頻點校正數據的比較，根據比較結果修改內校正表A并應用；S5、重復步驟S3~S4，直至設備結束運行；所述內校正為抽取一些頻點進行內校正，抽取方式為在工作頻段范圍內隨機抽取，以保證每個頻點被抽到的概率相同，同時保證經過多次內校正抽取時能夠覆蓋所有的工作頻點；所述比較的方法具體為：當|C-A|Th且|C-Mi|Th時，Th為顯著性閾值，則應重新啟動一個完整內校正，得到內校正表B，用來替換原內校正表A；當|C-A|=Th時，內校正表A保持不變；當|C-A|Th且|C-Mi|=Th時，不再進行完整的內校正，直接使用與溫度監控芯片溫度Ti相對應的內校正表Mi代替內校正表A；所述完整內校正為對所有工作頻段范圍內的每一個頻點都進行一次內校正。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國電子科技集團公司第二十九研究所，其通訊地址為：610036 四川省成都市金牛區營康西路496號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。