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龍圖騰網(wǎng)獲悉長(zhǎng)城超云(北京)科技有限公司申請(qǐng)的專利一種基于FIO測(cè)試工具的磁盤(pán)測(cè)試方法及裝置獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN114706719B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-05-06發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202210508602.2，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F11/22；該發(fā)明授權(quán)一種基于FIO測(cè)試工具的磁盤(pán)測(cè)試方法及裝置是由雷宇設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-05-10向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種基于FIO測(cè)試工具的磁盤(pán)測(cè)試方法及裝置在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N基于FIO測(cè)試工具的磁盤(pán)測(cè)試方法及裝置，其中，該方法包括：接收在人機(jī)交互界面上輸入的針對(duì)服務(wù)器中的待測(cè)試磁盤(pán)的測(cè)試參數(shù)；在第一目標(biāo)文件夾下創(chuàng)建與多個(gè)文件塊大小對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)試文件夾；使用磁盤(pán)標(biāo)識(shí)、可用線程數(shù)和多個(gè)測(cè)試文件夾的存儲(chǔ)路徑，分別更新基準(zhǔn)運(yùn)行腳本中的測(cè)試磁盤(pán)標(biāo)志位、可用線程數(shù)標(biāo)志位和測(cè)試數(shù)據(jù)讀寫(xiě)路徑，以獲得測(cè)試運(yùn)行腳本；判斷磁盤(pán)標(biāo)識(shí)所指示的待測(cè)試磁盤(pán)是否包括服務(wù)器的系統(tǒng)盤(pán)；若待測(cè)試磁盤(pán)不包括系統(tǒng)盤(pán)，則運(yùn)行測(cè)試運(yùn)行腳本對(duì)待測(cè)試磁盤(pán)進(jìn)行磁盤(pán)讀寫(xiě)測(cè)試，生成待檢測(cè)磁盤(pán)的磁盤(pán)測(cè)試結(jié)果。達(dá)到根據(jù)人機(jī)交互界面上的測(cè)試參數(shù)的輸入，快速、準(zhǔn)確、安全地對(duì)待檢測(cè)磁盤(pán)進(jìn)行測(cè)試的效果。

本發(fā)明授權(quán)一種基于FIO測(cè)試工具的磁盤(pán)測(cè)試方法及裝置在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種基于FIO測(cè)試工具的磁盤(pán)測(cè)試方法，其特征在于，所述FIO測(cè)試工具包括基準(zhǔn)配置文件和基準(zhǔn)運(yùn)行腳本，所述方法包括：接收在人機(jī)交互界面上輸入的針對(duì)服務(wù)器中的待測(cè)試磁盤(pán)的測(cè)試參數(shù)，所述測(cè)試參數(shù)包括用于指示待測(cè)試磁盤(pán)的磁盤(pán)標(biāo)識(shí)、針對(duì)待測(cè)試磁盤(pán)進(jìn)行磁盤(pán)測(cè)試時(shí)的可用線程數(shù)和進(jìn)行磁盤(pán)測(cè)試時(shí)所使用的文件塊的多個(gè)文件塊大小；在第一目標(biāo)文件夾下創(chuàng)建與所述多個(gè)文件塊大小對(duì)應(yīng)的多個(gè)測(cè)試文件夾，所述第一目標(biāo)文件夾為用于存儲(chǔ)基準(zhǔn)配置文件的文件夾；使用所述磁盤(pán)標(biāo)識(shí)、可用線程數(shù)和所述多個(gè)測(cè)試文件夾的存儲(chǔ)路徑，分別更新基準(zhǔn)運(yùn)行腳本中的測(cè)試磁盤(pán)標(biāo)志位、可用線程數(shù)標(biāo)志位和測(cè)試數(shù)據(jù)讀寫(xiě)路徑，以獲得測(cè)試運(yùn)行腳本；判斷磁盤(pán)標(biāo)識(shí)所指示的待測(cè)試磁盤(pán)是否包括服務(wù)器的系統(tǒng)盤(pán)；若所述待測(cè)試磁盤(pán)不包括系統(tǒng)盤(pán)，則運(yùn)行所述測(cè)試運(yùn)行腳本對(duì)所述待測(cè)試磁盤(pán)進(jìn)行磁盤(pán)讀寫(xiě)測(cè)試，生成所述待測(cè)試磁盤(pán)的磁盤(pán)測(cè)試結(jié)果。

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