恭喜美光科技公司陳振剛獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)恭喜美光科技公司申請的專利用于檢測具有時變位錯誤率的存儲器中的缺陷的方法和設(shè)備獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN113272905B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-07-04發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:201980088355.1,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G11C29/12;該發(fā)明授權(quán)用于檢測具有時變位錯誤率的存儲器中的缺陷的方法和設(shè)備是由陳振剛;S·K·米拉瓦拉普;沈震雷;謝廷俊;C·S·光設(shè)計研發(fā)完成,并于2019-12-10向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本用于檢測具有時變位錯誤率的存儲器中的缺陷的方法和設(shè)備在說明書摘要公布了:本文描述了與具有時變位錯誤率的存儲器系統(tǒng)的存儲器組件中的缺陷檢測相關(guān)的實施例。處理裝置進行錯誤恢復(fù)流程ERF以恢復(fù)數(shù)據(jù)單元,所述數(shù)據(jù)單元包括數(shù)據(jù)和指示何時寫入所述數(shù)據(jù)單元的寫入時間戳。所述處理裝置使用對應(yīng)于所述讀取操作的位錯誤率BER和所述數(shù)據(jù)單元中的所述寫入時間戳來確定是否進行缺陷檢測操作以檢測所述存儲器組件中的缺陷。所述處理裝置響應(yīng)于所計算的W2R基于所述寫入時間戳不期望所述BER條件來發(fā)起所述缺陷檢測操作。所述處理裝置能夠使用ERF條件和所述寫入時間戳來確定是否進行所述缺陷檢測操作。所述處理裝置響應(yīng)于所計算的W2R基于所述寫入時間戳不期望所述ERF條件來發(fā)起所述缺陷檢測操作。
本發(fā)明授權(quán)用于檢測具有時變位錯誤率的存儲器中的缺陷的方法和設(shè)備在權(quán)利要求書中公布了:1.一種系統(tǒng),其包括: 存儲器組件;和 處理裝置,其可操作地與所述存儲器組件耦合,以: 在當(dāng)前時間進行讀取操作以讀取數(shù)據(jù)單元,所述數(shù)據(jù)單元包括數(shù)據(jù)和指示所述數(shù)據(jù)單元何時被寫入所述存儲器組件的寫入時間戳; 確定是否檢測到錯誤恢復(fù)流程ERF條件,其中所述ERF條件響應(yīng)于ERF響應(yīng)于在所述讀取操作中檢測到一或多個錯誤來進行以恢復(fù)所述數(shù)據(jù)單元來檢測; 確定是否檢測到位錯誤率BER條件,其中所述BER條件響應(yīng)于對應(yīng)于所述讀取操作的BER滿足閾值標準來檢測; 確定所述讀取操作的寫入到讀取W2R延遲,其中所述W2R延遲包括所述讀取操作的所述當(dāng)前時間和指示所述數(shù)據(jù)單元何時被寫入所述存儲器組件的所述寫入時間戳之間的差; 響應(yīng)于檢測到所述ERF條件或所述BER條件中的至少一個,確定所述W2R延遲是否在對應(yīng)于初始讀取電壓水平的W2R延遲范圍內(nèi),所述初始讀取電壓水平由所述讀取操作使用以讀取所述數(shù)據(jù)單元;和 響應(yīng)于所述W2R延遲在所述W2R延遲范圍內(nèi)來發(fā)起缺陷檢測操作,所述缺陷檢測操作用于檢測所述存儲器組件中的時變?nèi)毕荨?
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人美光科技公司,其通訊地址為:美國愛達荷州;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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