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龍圖騰網獲悉南京郵電大學申請的專利一種基于激勵聚焦掃描的各向異性補償MUSIC損傷成像方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114813956B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210417500.X，技術領域涉及：G01N29/06；該發明授權一種基于激勵聚焦掃描的各向異性補償MUSIC損傷成像方法是由鮑嶠;錢曉亮;王強;胡偉偉設計研發完成，并于2022-04-20向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于激勵聚焦掃描的各向異性補償MUSIC損傷成像方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于激勵聚焦掃描的各向異性補償MUSIC損傷成像方法，包括：針對強衰減各向異性結構上成像精度低的問題，采用自激勵自傳感壓電傳感器陣列，對陣列激勵信號聚焦掃描，提高損傷散射信號的信噪比；利用事先測量的各方向上的導波傳播速度，采用掃描方向?陣元方向的雙重各向異性補償機制，在MUSIC掃描過程中自適應校正陣列方向矢量；將激勵聚焦掃描與MUSIC算法相結合，實現最終的損傷成像定位。本發明提高了損傷散射陣列信號的信噪比，補償了結構各向異性引起的陣列誤差，在強衰減各向異性結構的損傷成像定位中具有廣泛的應用前景。

本發明授權一種基于激勵聚焦掃描的各向異性補償MUSIC損傷成像方法在權利要求書中公布了：1.一種基于激勵聚焦掃描的各向異性補償MUSIC損傷成像方法，其特征在于，包括以下步驟：步驟1、依次驅動線形陣列的PZT陣元以產生導波，同時采集其余所有PZT陣元接受的導波信號，并提取損傷狀態與健康狀態的陣列差信號，即為損傷散射陣列信號；步驟2、設定監測區域內的某掃描位置r,θ，并以線形陣列的中心陣元為參考陣元，計算各激勵陣元PZTq相對參考陣元至掃描位置的時延；通過延時累加獲取陣列中各陣元的響應信號及其信號幅值的最大值，并計算記錄陣列各陣元信號幅值最大值的平方和；步驟3、重復步驟2，直至完成監測區域的掃描，提取最大值平方和最大的搜索步驟，獲得對應的激勵聚焦于損傷位置的增強散射陣列信號x′pt；步驟4、計算增強的損傷散射陣列信號的協方差矩陣；并對其進行特征值分解，獲得小特征值對應特征向量張成的噪聲子空間；步驟5、再次設定某掃描位置r,θ，計算所述的掃描位置r,θ至陣列中各陣元的方向，根據事前測量好的結構上各方向導波速度，自適應選取各陣元對應方向上的傳播速度計算陣列流型矢量；步驟6、計算噪聲子空間與該掃描位置陣列流型矢量相乘的模值倒數，記錄為該掃描位置的空間譜Pr,θ；步驟7、重復步驟5-6，直至完成監測區域的掃描；以空間譜為像素值繪制圖像，搜尋圖像的峰值處即為損傷位置；所述的步驟5具體包括：步驟5.1.計算對應掃描位置r,θ的陣列流型矢量apr,θ為 上式中，cθp為沿θp方向上的導波傳播速度，θp為掃描位置r,θ至PZTp陣元的方向；步驟5.2.計算各向異性補償的陣列流型矢量時，其掃描位置r,θ至PZTp陣元的方向θp為：

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人南京郵電大學，其通訊地址為：210046 江蘇省南京市棲霞區文苑路9號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。